X선 회절을 이용한 결정구조 해석

저자

김*헌, 오창섭, 성기웅

게재저널

열처리공학회지

키워드

X선 회절

개요

물질에 따라 X선 회절의 강도와 진행방향은 그 물질을 구성하는 원자의 종류와 배열상태에 따라 달라지는 특성을 가지고 있으므로 X선 회절을 조사함으로써 물질의 미세한 구조를 알 수 있다. 여기서는 회절 X선 카메라 중 결정회전식 X선 카메라와 결정분말용 X선 카메라에 대해 서술하였다.

첨부파일

• 2. 김종헌, 오창섭_열처리공학회지(등재지).pdf [582,704 byte]

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