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임베디드 시스템 보안구조 제공 및 시험

전문가 제언

베디드 시스템 시험은 보안제공 및 품질결정을 위해 사용되는 공통과정이다. 시험계획에 있어서 임베디드 시스템의 분명한 특징은 특수용도로 반영되며 논리적인 정확도에 의존할 뿐만 아니라 시간의 제한성 조건을 충족시켜야 한다. 각 임베디드 시스템은 응용시스템 시험을 위해 분리된 코드 나 분리된 도구가 필요하며 하나의 플랫폼에서 임베디드시스템 점검은 충분한 경쟁성을 지니고 있다.

임베디드 시스템 시험기술은 화이트박스시험, 블랙박스시험 및 탐색시험이 있으며 피 시험 시스템의 요구사항에 따라 사용된다. 수명주기를 적용하는 다양한 유형의 시험은 단위시험, 하부시스템 시험, 통합시험, 회귀시험, 합부판정시험 및 베타시험 등이 있다. 올바른 방법 선택은 임베디드 시스템 시험에서 매우 중요하다. 그러나 여기서는 각 시험방법에 따른 장단점을 제시하지 않고 있다.

 

임베디드 시스템 시험평가 기준은 미국, 캐나다, 영국, 프랑스, 독일, 네넬란드 등 6개국이 참여한 CC(Common Criteria)프로젝트가 19936월에 결성되었고 19996월에 ISO/IEC 15408국제 표준으로 채택되었다. CC의 보안요구사항에 기반하여 시험 및 정보보호 제품별로 보호프로파일 및 보안목표명세서에 따라 평가를 시행하고 있다.

 

임베디드시스템은 하드웨어와 소프트웨어의 결합체이다. 따라서 임베디드시스템 시험은 하드웨어와 소프트웨어로 구분하여 소프트웨어인 경우 자체특성에 기반한 취약성 분류 및 보안요구사항 도출과 하드웨어적인 코드 및 데이터를 추출시험이 요구된다. 따라서 임베디드 시스템 시험은 국제공통평가 기준 시험항목, 스마트카드 보호프로파일 등을 참고하여 전반적인 임베디드 장치에 대한 시험방법, 평가기준 및 절차개발에 대한 지속적인 연구와 노력이 요구된다.

저자
Swapnili. Karmore, Anjali R. Mahajan
자료유형
니즈학술정보
원문언어
영어
기업산업분류
정보통신
연도
2016
권(호)
78()
잡지명
Procedia Computer Science
과학기술
표준분류
정보통신
페이지
851~858
분석자
조*팔
분석물
담당부서 담당자 연락처
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